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Role of conductivity on the electromigration-induced morphological evolution of inclusions in {110}-oriented single crystal metallic thin films

Santoki, J. 1; Mukherjee, A. 1; Schneider, D. 1; Nestler, B. 1
1 Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.5119714
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Web of Science
Zitationen: 5
Dimensions
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS)
Post Lithium Storage (POLiS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8979, 0148-6349, 1089-7550, 1520-8850, 2163-5102
KITopen-ID: 1000099779
Erschienen in Journal of applied physics
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 126
Heft 16
Seiten Article No.165305
Vorab online veröffentlicht am 25.10.2019
Nachgewiesen in Web of Science
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