Role of conductivity on the electromigration-induced morphological evolution of inclusions in {110}-oriented single crystal metallic thin films
Santoki, J.
1; Mukherjee, A. 1; Schneider, D.
1; Nestler, B. 1
1 Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Mukherjee, A. 1; Schneider, D.
1; Nestler, B. 11 Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS) Post Lithium Storage (POLiS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0021-8979, 0148-6349, 1089-7550, 1520-8850, 2163-5102 KITopen-ID: 1000099779 |
| Erschienen in | Journal of applied physics |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 126 |
| Heft | 16 |
| Seiten | Article No.165305 |
| Vorab online veröffentlicht am | 25.10.2019 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |