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Role of conductivity on the electromigration-induced morphological evolution of inclusions in {110}-oriented single crystal metallic thin films

Santoki, J.; Mukherjee, A.; Schneider, D.; Nestler, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Post Lithium Storage (POLiS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8979, 0148-6349, 1089-7550, 1520-8850, 2163-5102
KITopen-ID: 1000099779
Erschienen in Journal of applied physics
Band 126
Heft 16
Seiten Article No.165305
Vorab online veröffentlicht am 25.10.2019
Nachgewiesen in Scopus
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