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Analysis of crystal defects by scanning transmission electron microscopy (STEM) in a modern scanning electron microscope

Sun, Cheng; Müller, Erich; Mefert, Matthias; Gerthsen, Dagmar

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000099840
Veröffentlicht am 13.11.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1186/s40679-019-0065-1
Scopus
Zitationen: 7
Dimensions
Zitationen: 10
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2198-0926
KITopen-ID: 1000099840
Erschienen in Advanced structural and chemical imaging
Verlag SpringerOpen
Band 5
Heft 1
Seiten 1-9
Vorab online veröffentlicht am 09.03.2019
Nachgewiesen in Dimensions
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