Analysis of crystal defects by scanning transmission electron microscopy (STEM) in a modern scanning electron microscope
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 12.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2198-0926 KITopen-ID: 1000099840 |
| Erschienen in | Advanced structural and chemical imaging |
| Verlag | SpringerOpen |
| Band | 5 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 1-9 |
| Vorab online veröffentlicht am | 09.03.2019 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |