Analysis of crystal defects by scanning transmission electron microscopy (STEM) in a modern scanning electron microscope

¹; Mefert, Matthias; Gerthsen, Dagmar ¹
¹ Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Verlagsausgabe

DOI: 10.5445/IR/1000099840

Veröffentlicht am 13.11.2019

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1186/s40679-019-0065-1

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr	12.2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 2198-0926 KITopen-ID: 1000099840
Erschienen in	Advanced structural and chemical imaging
Verlag	SpringerOpen
Band	5
Heft	1
Seiten	1-9
Vorab online veröffentlicht am	09.03.2019
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus