Electrical characterization of AMS aH18 HV-CMOS after neutrons and protons irradiation
Sultan, D. M. S.; Sevilla, S. Gonzalez; Ferrere, D.; Iacobucci, G.; Zaffaroni, E.; Wong, W.; Pinto, M. V. Barrero; Kiehn, M.; Prathapan, M. 1; Ehrler, F. 1; Peric, I.
1; Miucci, A.; Anders, J. Kenneth; Fehr, A.; Weber, M.; Schoening, A.; Herkert, A.; Augustin, H.; Benoit, M.
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Miucci, A.; Anders, J. Kenneth; Fehr, A.; Weber, M.; Schoening, A.; Herkert, A.; Augustin, H.; Benoit, M.1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1748-0221 KITopen-ID: 1000099921 |
| HGF-Programm | 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien |
| Erschienen in | Journal of Instrumentation |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 14 |
| Heft | 5 |
| Seiten | Art. Nr.: C05003 |
| Vorab online veröffentlicht am | 07.05.2019 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |