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Charge collection in irradiated HV-CMOS detectors

Hiti, B.; Affolder, A.; Arndt, K.; Bates, R.; Benoit, M.; Bello, F. Di; Blue, A.; Bortoletto, D.; Buckland, M.; Buttar, C.; Caragiulo, P.; Das, D.; Doering, D.; Dopke, J.; Dragone, A.; Ehrler, F.; Fadeyev, V.; Fedorko, W.; Galloway, Z.; Gay, C.; ... mehr

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.nima.2018.07.022
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 04.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0168-9002
KITopen-ID: 1000100081
HGF-Programm 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien
Erschienen in Nuclear instruments & methods in physics research / A
Verlag North-Holland
Band 924
Seiten 214–218
Nachgewiesen in Web of Science
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