Charge collection in irradiated HV-CMOS detectors
Hiti, B.; Affolder, A.; Arndt, K.; Bates, R.; Benoit, M.; Bello, F. Di; Blue, A.; Bortoletto, D.; Buckland, M.; Buttar, C.; Caragiulo, P.; Das, D.; Doering, D.; Dopke, J.; Dragone, A.; Ehrler, F. 1; Fadeyev, V.; Fedorko, W.; Galloway, Z.;
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 04.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0168-9002 KITopen-ID: 1000100081 |
| HGF-Programm | 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien |
| Erschienen in | Nuclear instruments & methods in physics research / A |
| Verlag | North-Holland Publishing |
| Band | 924 |
| Seiten | 214–218 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |