New Worst-Case Timing for Standard Cells Under Aging Effects
Santen, Victor M. van
1; Amrouch, Hussam 1; Henkel, Jorg 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Amrouch, Hussam 1; Henkel, Jorg 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 03.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1530-4388, 1558-2574 KITopen-ID: 1000100550 |
| Erschienen in | IEEE transactions on device and materials reliability |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 19 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 149–158 |
| Vorab online veröffentlicht am | 15.01.2019 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |