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New Worst-Case Timing for Standard Cells Under Aging Effects

Santen, Victor M. van; Amrouch, Hussam; Henkel, Jorg



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TDMR.2019.2893017
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Zitationen: 3
Web of Science
Zitationen: 2
Dimensions
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 03.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1530-4388, 1558-2574
KITopen-ID: 1000100550
Erschienen in IEEE transactions on device and materials reliability
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 19
Heft 1
Seiten 149–158
Vorab online veröffentlicht am 15.01.2019
Nachgewiesen in Dimensions
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