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A Comprehensive Reliability Analysis Framework for NTC Caches: A System to Device Approach

Gebregiorgis, Anteneh; Bishnoi, Rajendra; Tahoori, Mehdi B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2018.2818691
Scopus
Zitationen: 2
Web of Science
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 03.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000100579
Erschienen in IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 38
Heft 3
Seiten 439–452
Vorab online veröffentlicht am 23.03.2018
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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