A Comprehensive Reliability Analysis Framework for NTC Caches: A System to Device Approach
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 03.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0278-0070, 1937-4151 KITopen-ID: 1000100579 |
| Erschienen in | IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 38 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 439–452 |
| Vorab online veröffentlicht am | 23.03.2018 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |