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A Comprehensive Reliability Analysis Framework for NTC Caches: A System to Device Approach

Gebregiorgis, Anteneh 1; Bishnoi, Rajendra 1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2018.2818691
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Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 03.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000100579
Erschienen in IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 38
Heft 3
Seiten 439–452
Vorab online veröffentlicht am 23.03.2018
Nachgewiesen in Dimensions
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