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3D-Printed Optics for Wafer-Scale Probing

Trappen, Mareike; Blaicher, Matthias; Dietrich, Philipp-Immanuel; Hoose, Tobias; Xu, Yilin; Billah, Muhammad Rodlin; Freude, Wolfgang; Koos, Christian

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DOI: 10.5445/IR/1000100591
Veröffentlicht am 06.12.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ECOC.2018.8535123
Scopus
Zitationen: 2
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 09.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-4862-9
KITopen-ID: 1000100591
Erschienen in 44th European Conference on Optical Communication (ECOC 2018), Rome, I, September 23-27, 2018
Veranstaltung 44th European Communication Conference (ECREA 2018), Rom, Italien, 23.09.2018 – 27.09.2018
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
Seiten Article no: 8535123
Nachgewiesen in Scopus
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