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3D-Printed Optics for Wafer-Scale Probing

Trappen, Mareike 1,2; Blaicher, Matthias 1,2; Dietrich, Philipp-Immanuel; Hoose, Tobias 1,2; Xu, Yilin 1,2; Billah, Muhammad Rodlin 1,2; Freude, Wolfgang 1; Koos, Christian 1,2
1 Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000100591
Veröffentlicht am 06.12.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ECOC.2018.8535123
Scopus
Zitationen: 6
Dimensions
Zitationen: 6
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 09.2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-4862-9
KITopen-ID: 1000100591
Erschienen in 44th European Conference on Optical Communication (ECOC 2018), Rome, I, September 23-27, 2018
Veranstaltung 44th European Communication Conference (ECREA 2018), Rom, Italien, 23.09.2018 – 27.09.2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Article no: 8535123
Nachgewiesen in Dimensions
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