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Detailed Design of NbN Based Kinetic Inductance Detectors for Polarimetric Diagnostics

Mazzocchi, F.; Driessen, E.F.C.; Shu, S.; Straus, D.; Scherer, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 09.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-8285-2
KITopen-ID: 1000100706
HGF-Programm 31.03.05 (POF III, LK 01) Port- und Plant Engineering
Erschienen in 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves: IRMMW-THz 2019, Paris, 1-6 September 2019
Veranstaltung 44th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2019), Paris, Frankreich, 01.09.2019 – 06.09.2019
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
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