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Nano is dead: Lang leben die neuen, emergierenden Technologien! Bericht von der S.NET 2011. Tempe, Arizona, USA, 7.–10. November 2011

Ferrari, A.


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000101692
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technikfolgenabschätzung und Systemanalyse (ITAS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0943-8246, 1619-7623, 2199-9201
KITopen-ID: 1000101692
HGF-Programm 48.02.01 (POF II, LK 01) Innovationsprozesse und Technikfolgen
Erschienen in Technikfolgenabschätzung, Theorie und Praxis
Verlag Oekom Verlag
Band 21
Heft 1
Seiten 112-116
Externe Relationen Siehe auch
Nachgewiesen in Dimensions
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