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“NanoRisk” und “NanoVision” - Tagungsbericht

Fiedeler, U.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.14512/tatup.14.1.126
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technikfolgenabschätzung und Systemanalyse (ITAS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2005
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0943-8246, 1619-7623, 2199-9201
KITopen-ID: 1000101704
Erschienen in Technikfolgenabschätzung, Theorie und Praxis
Verlag Oekom Verlag
Band 14
Heft 1
Seiten 126-129
Externe Relationen Siehe auch
Nachgewiesen in Dimensions
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