KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Nanopartikel unter der Lupe - Tagungsbericht

Fiedeler, U.; Fleischer, T.; Decker, M.

Open Access Logo


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technikfolgenabschätzung und Systemanalyse (ITAS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2004
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0943-8246, 1619-7623, 2199-9201
KITopen-ID: 1000101712
Erschienen in Technikfolgenabschätzung, Theorie und Praxis
Band 13
Heft 1
Seiten 121-124
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page