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Structural and nanochemical properties of AlOx layers in Al/AlOx/Al-layer systems for Josephson junctions

Fritz, S.; Radtke, L.; Schneider, R.; Luysberg, M.; Weides, M.; Gerthsen, D.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevMaterials.3.114805
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2475-9953
KITopen-ID: 1000104180
Erschienen in Physical review materials
Band 3
Heft 11
Seiten 114805
Vorab online veröffentlicht am 21.11.2019
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