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Structural and nanochemical properties of AlOx layers in Al/AlOx/Al-layer systems for Josephson junctions

Fritz, S. 1; Radtke, L. 2; Schneider, R. 1; Luysberg, M.; Weides, M. 2; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevMaterials.3.114805
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Zitationen: 15
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Physikalisches Institut (PHI)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2475-9953
KITopen-ID: 1000104180
Erschienen in Physical review materials
Verlag American Physical Society (APS)
Band 3
Heft 11
Seiten 114805
Vorab online veröffentlicht am 21.11.2019
Nachgewiesen in Scopus
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