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Defect Creation in Surface-Mounted Metal–Organic Framework Thin Films

Wang, Zheng; Henke, Sebastian; Paulus, Michael; Welle, Alexander ORCID iD icon 1; Fan, Zhiying; Rodewald, Katia; Rieger, Bernhard; Fischer, Roland A.
1 Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000104558
Veröffentlicht am 24.06.2022
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1021/acsami.9b18672
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Zitationen: 19
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Zitationen: 19
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1944-8244, 1944-8252
KITopen-ID: 1000104558
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design
Weitere HGF-Programme 49.02.06 (POF III, LK 02) ToF-SIMS
Erschienen in ACS applied materials & interfaces
Verlag American Chemical Society (ACS)
Band 12
Heft 2
Seiten 2655–2661
Vorab online veröffentlicht am 30.12.2019
Schlagwörter 2019-022-026750 ToF-SIMS
Nachgewiesen in Scopus
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