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Bayesian Optimized Mixture Importance Sampling for High-Sigma Failure Rate Estimation

Weller, Dennis D.; Hefenbrock, Michael; Golanbari, Mohammad S.; Beigl, Michael; Aghassi-Hagmann, Jasmin; Tahoori, Mehdi B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/tcad.2019.2961321
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Technische Informatik (ITEC)
Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 10.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000104671
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Erschienen in IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 39
Heft 10
Seiten 2772 - 2783
Vorab online veröffentlicht am 20.12.2019
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