Bayesian Optimized Mixture Importance Sampling for High-Sigma Failure Rate Estimation
Weller, Dennis D.; Hefenbrock, Michael; Golanbari, Mohammad S.; Beigl, Michael; Aghassi-Hagmann, Jasmin
; Tahoori, Mehdi B.
; Tahoori, Mehdi B.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Institut für Technische Informatik (ITEC) Institut für Telematik (TM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0278-0070, 1937-4151 KITopen-ID: 1000104671 |
| HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
| Erschienen in | IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 39 |
| Heft | 10 |
| Seiten | 2772 - 2783 |
| Vorab online veröffentlicht am | 20.12.2019 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |