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Phase-Field Study of Electromigration-Induced Shape Evolution of a Transgranular Finger-Like Slit

Santoki, Jay ORCID iD icon 1; Mukherjee, Arnab 1; Schneider, Daniel ORCID iD icon 1; Selzer, Michael 1; Nestler, Britta 1
1 Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s11664-018-6619-5
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Web of Science
Zitationen: 12
Dimensions
Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0361-5235, 1543-186X
KITopen-ID: 1000104955
Erschienen in Journal of electronic materials
Verlag Springer
Band 48
Heft 1
Seiten 182–193
Vorab online veröffentlicht am 31.08.2018
Nachgewiesen in Dimensions
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