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Characterization of Parasitic Elements in Capacitors for Fast-switching Resonant Converters

Hergt, Martin; Mayer, Lukas W.; Sack, Martin; Honsberg, Martin; Nielebock, Sebastian; Hiller, Marc



Zugehörige Institution(en) am KIT Elektrotechnisches Institut (ETI)
Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 10.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-7281-4879-3
KITopen-ID: 1000104968
HGF-Programm 35.13.01 (POF III, LK 01) Biomassen und Vorbehandlung
Erschienen in IECON 2019 - 45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, Lisbon, Portugal, 14-17 Oct. 2019
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 4095–4100
Nachgewiesen in Dimensions
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