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Secure STT-MRAM Bit-Cell Design Resilient to Differential Power Analysis Attacks

Ben Dodo, S. 1; Bishnoi, R. 1; Tahoori, M. B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TVLSI.2019.2940449
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Zitationen: 11
Web of Science
Zitationen: 9
Dimensions
Zitationen: 13
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1063-8210, 1557-9999
KITopen-ID: 1000105345
Erschienen in IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 28
Heft 1
Seiten 263-272
Vorab online veröffentlicht am 03.10.2019
Nachgewiesen in Dimensions
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