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Study of indium tin oxide–MoS interface by atom probe tomography

Ramos, Manuel; Nogan, John; Boll, Torben; Kauffmann-Weiss, Sandra; Rodriguez-Gonzalez, Claudia A.; Enriquez-Carrejo, Jose L.; Heilmaier, Martin



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1557/mrc.2019.150
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Zitationen: 1
Web of Science
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2159-6859, 2159-6867
KITopen-ID: 1000105512
HGF-Programm 49.02.08 (POF III, LK 02)
Atom probe tomography
Erschienen in MRS communications
Band 9
Heft 4
Seiten 1261–1266
Vorab online veröffentlicht am 13.11.2019
Schlagwörter 2018-020-022609 APT FIB
Nachgewiesen in Scopus
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