Study of indium tin oxide–MoS interface by atom probe tomography
Ramos, Manuel 1; Nogan, John; Boll, Torben
1,2; Kauffmann-Weiss, Sandra 1; Rodriguez-Gonzalez, Claudia A.; Enriquez-Carrejo, Jose L.; Heilmaier, Martin 1
1 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1,2; Kauffmann-Weiss, Sandra 1; Rodriguez-Gonzalez, Claudia A.; Enriquez-Carrejo, Jose L.; Heilmaier, Martin 11 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 12.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2159-6859, 2159-6867 KITopen-ID: 1000105512 |
| HGF-Programm | 49.02.08 (POF III, LK 02) Atom probe tomography |
| Erschienen in | MRS communications |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 9 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 1261–1266 |
| Vorab online veröffentlicht am | 13.11.2019 |
| Schlagwörter | 2018-020-022609 APT FIB |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |