In Situ Synchrotron X-Ray Diffraction Stress Analysis During Laser Surface Line Hardening of Samples with Specific Geometric Features
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-030-36295-9 ISSN: 2367-1181 KITopen-ID: 1000105941 |
| Erschienen in | TMS 2020 Annual Meeting & Exhibition, San Diego, California, USA, February 23-27, 2020 |
| Verlag | Springer International Publishing |
| Seiten | 2127–2138 |
| Serie | The Minerals, Metals & Materials Series |
| Vorab online veröffentlicht am | 12.02.2020 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |