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In Situ Synchrotron X-Ray Diffraction Stress Analysis During Laser Surface Line Hardening of Samples with Specific Geometric Features

Kiefer, Dominik; Gibmeier, Jens; Wilde, Fabian; Beckmann, Felix



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-030-36296-6_196
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-030-36295-9
ISSN: 2367-1181
KITopen-ID: 1000105941
Erschienen in TMS 2020 Annual Meeting & Exhibition, San Diego, California, USA, February 23-27, 2020
Verlag Springer International Publishing, Cham
Seiten 2127–2138
Serie The Minerals, Metals & Materials Series
Vorab online veröffentlicht am 12.02.2020
Nachgewiesen in Scopus
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