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In Situ Synchrotron X-Ray Diffraction Stress Analysis During Laser Surface Line Hardening of Samples with Specific Geometric Features

Kiefer, Dominik 1; Gibmeier, Jens 1; Wilde, Fabian; Beckmann, Felix
1 Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-030-36296-6_196
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Zitationen: 2
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-030-36295-9
ISSN: 2367-1181
KITopen-ID: 1000105941
Erschienen in TMS 2020 Annual Meeting & Exhibition, San Diego, California, USA, February 23-27, 2020
Verlag Springer International Publishing
Seiten 2127–2138
Serie The Minerals, Metals & Materials Series
Vorab online veröffentlicht am 12.02.2020
Nachgewiesen in Scopus
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