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Reverse Engineering of Printed Electronics Circuits: From Imaging to Netlist Extraction

Erozan, Ahmet Turan; Hefenbrock, Michael; Beigl, Michael; Aghassi-Hagmann, Jasmin; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1556-6013, 1556-6021
KITopen-ID: 1000111555
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01)
Printed Materials and Systems
Erschienen in IEEE transactions on information forensics and security / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Band 15
Seiten 475–486
Vorab online veröffentlicht am 12.06.2019
Nachgewiesen in Web of Science
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