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Reverse Engineering of Printed Electronics Circuits: From Imaging to Netlist Extraction

Erozan, Ahmet Turan 1; Hefenbrock, Michael 2; Beigl, Michael 2; Aghassi-Hagmann, Jasmin ORCID iD icon 1; Tahoori, Mehdi B. 2
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TIFS.2019.2922237
Scopus
Zitationen: 8
Web of Science
Zitationen: 7
Dimensions
Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1556-6013, 1556-6021
KITopen-ID: 1000111555
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Erschienen in IEEE transactions on information forensics and security / Institute of Electrical and Electronics Engineers
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 15
Seiten 475–486
Vorab online veröffentlicht am 12.06.2019
Nachgewiesen in Scopus
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