KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

23: Softwaretechnik 1, Vorlesung, SS 2016, am 08.07.2016

Tichy, Walter F. ORCID iD icon

  • 0:00:00 Starten
  • 0:00:05 Kapitel 5.1 - Testen und Prüfen
  • 0:01:07 Motivation
  • 0:02:28 Fehleraufdeckung ist das Ziel der Testverfahren
  • 0:11:00 Es gibt 3 Arten von Fehlern...
  • 0:14:21 Zusammenhang der Fehlerarten
  • 0:15:51 Arten von Testhelfern
  • 0:18:04 Fehlerklassen
  • 0:20:29 Modul-/Softwaretestverfahren
  • 0:24:00 Klassifikation testender Verfahren
  • 0:33:07 Kontrollflussorientierte (KFO) Testverfahren
  • 0:37:41 Defenition: Zwischensprache
  • 0:39:05 Defenition: Strukturhaltende Transformation
  • 0:40:30 Beispieltransformation
  • 0:43:28 Defenition: Grundblock (GB)
  • 0:45:31 Defenition: Kontrollflussgraph
  • 0:46:39 Kontrollflussgraph finden
  • 0:50:04 Beispielkontrollflussgraph
  • 0:52:04 Kontrollflussgraph vereinfachen
  • 0:53:15 Definition: Anweisungsüberdeckung
  • 0:54:46 Defintion: Zweigüberdeckung
  • 0:55:11 Anw.- vs. Zweigüberdeckung
  • 1:02:42 Definition: Pfadüberdeckung
  • 1:04:02 Beispiel für Anweisungs, Zweig- und Pfadüberdeckung
  • 1:05:01 Aufwand der Pfadüberdeckung
  • 1:06:15 Definition: Subsumieren
  • 1:07:21 Hierarchie der KFO-Teststrategien
  • 1:08:38 Zusammenfassung: KFO Teststrategien
  • 1:12:51 Funktionale Tests
  • 1:16:39 Verfahren zur Testfallbestimmung
  • 1:17:44 Funktionale Äquivalenzklassenbildung
  • 1:19:02 Äquivalenzklassenbildung: Beispiel
  • 1:22:20 Grenzwertanalyse

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Audio & Video
Publikationsdatum 14.07.2016
Erstellungsdatum 08.07.2016
Sprache Deutsch
DOI 10.5445/DIVA/2016-543
Identifikator KITopen-ID: 1000114128
Lizenz KITopen-Lizenz
Serie Softwaretechnik I, Vorlesung und Übung, SS 2016
Folge 22
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page