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22: Softwaretechnik 1, Vorlesung, SS 2017, 14.07.2017

Tichy, Walter F.; Weigelt, Sebastian; Blersch, Martin; Hey, Tobias; KIT | Webcast [Hrsg.]

  • 0:00:00 Starten
  • 0:00:08 Kapitel 5.1 - Testen und Prüfen
  • 0:02:20 Motivation
  • 0:04:03 Fehleraufdeckung ist das Ziel der Testverfahren
  • 0:07:03 Es gibt 3 Arten von Fehlern...
  • 0:09:02 Zusammenhang der Fehlerarten
  • 0:11:10 Arten von Testfehlern
  • 0:13:30 Fehlerklassen
  • 0:15:41 Modul-/Softwaretestverfahren
  • 0:18:07 Testphasen
  • 0:20:24 Klassifikation testender Verfahren
  • 0:28:15 Kontrollflussorientierte (KFO) Testverfahren
  • 0:30:14 Definition: Zwischensprache
  • 0:32:04 Definition: Strukturerhaltende Transformation
  • 0:40:08 Definition: Grundblock (GB) (engl. basic block)
  • 0:41:50 Definition: Kontrollflussgraph (KFG)
  • 0:43:18 Kontrollflussgraph finden
  • 0:48:36 Definitionen: Zweig, vollständige Pfade
  • 0:50:56 Kontrollflussgraph vereinfachen
  • 0:51:53 Definition: Anweisungsüberdeckung
  • 0:52:56 Definition: Zweigüberdeckung
  • 0:56:33 Definition: Pfadüberdeckung
  • 1:00:11 Definition: Subsumieren
  • 1:01:17 Zusammenfassung: KFO Teststrategien
  • 1:04:00 Kapitel 4.2.1 - Parallelität in Java
  • 1:04:02 Koordination: Monitore & Signalisierung
  • 1:09:15 Funktionsweise von Wait-Notify
  • 1:12:42 Konstruktion: Konstrukte für Warten und Benachrichtigung
  • 1:15:58 Koordination: Sicherheitshinweise & Faustregeln


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Audio & Video
Publikationsdatum 17.07.2017
Erstellungsdatum 14.07.2017
DOI 10.5445/DIVA/2017-430
Identifikator KITopen-ID: 1000114828
Serie Softwaretechnik I, Vorlesung, SS 2017
Lizenz KITopen-Lizenz
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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