22: Softwaretechnik 1, Vorlesung, SS 2017, 14.07.2017
Tichy, Walter F.
; Weigelt, Sebastian; Blersch, Martin; Hey, Tobias
; KIT | Webcast [Hrsg.]
; Weigelt, Sebastian; Blersch, Martin; Hey, Tobias
; KIT | Webcast [Hrsg.]- 0:00:00 Starten
- 0:00:08 Kapitel 5.1 - Testen und Prüfen
- 0:02:20 Motivation
- 0:04:03 Fehleraufdeckung ist das Ziel der Testverfahren
- 0:07:03 Es gibt 3 Arten von Fehlern...
- 0:09:02 Zusammenhang der Fehlerarten
- 0:11:10 Arten von Testfehlern
- 0:13:30 Fehlerklassen
- 0:15:41 Modul-/Softwaretestverfahren
- 0:18:07 Testphasen
- 0:20:24 Klassifikation testender Verfahren
- 0:28:15 Kontrollflussorientierte (KFO) Testverfahren
- 0:30:14 Definition: Zwischensprache
- 0:32:04 Definition: Strukturerhaltende Transformation
- 0:40:08 Definition: Grundblock (GB) (engl. basic block)
- 0:41:50 Definition: Kontrollflussgraph (KFG)
- 0:43:18 Kontrollflussgraph finden
- 0:48:36 Definitionen: Zweig, vollständige Pfade
- 0:50:56 Kontrollflussgraph vereinfachen
- 0:51:53 Definition: Anweisungsüberdeckung
- 0:52:56 Definition: Zweigüberdeckung
- 0:56:33 Definition: Pfadüberdeckung
- 1:00:11 Definition: Subsumieren
- 1:01:17 Zusammenfassung: KFO Teststrategien
- 1:04:00 Kapitel 4.2.1 - Parallelität in Java
- 1:04:02 Koordination: Monitore & Signalisierung
- 1:09:15 Funktionsweise von Wait-Notify
- 1:12:42 Konstruktion: Konstrukte für Warten und Benachrichtigung
- 1:15:58 Koordination: Sicherheitshinweise & Faustregeln
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD) |
| Publikationstyp | Audio & Video |
| Publikationsdatum | 17.07.2017 |
| Erstellungsdatum | 14.07.2017 |
| Sprache | Deutsch |
| DOI | 10.5445/DIVA/2017-430 |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000114828 |
| Lizenz | KITopen-Lizenz |
| Serie | Softwaretechnik I, Vorlesung, SS 2017 |
| Folge | 22 |