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Modeling and Characterization of Low Voltage, Inkjet Printed Devices and Circuits

Marques, G.C.; Rasheed, F.; Breitung, B.; Hahn, H.; Tahoori, M.; Aghassi-Hagmann, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000117396
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01)
Printed Materials and Systems
Veranstaltung Internationale Fachmesse und Kongress für gedruckte Elektronik (LOPEC 2018), München, Deutschland, 14.03.2018 – 15.03.2018
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