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Compensated Microsphere-Assisted Interference Microscopy

Perrin, Stephane; Donie, Yidenekachew J.; Montgomery, Paul; Gomard, Guillaume; Lecler, Sylvain



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevApplied.13.014068
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Zitationen: 2
Web of Science
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2331-7019
KITopen-ID: 1000118379
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Erschienen in Physical review applied
Verlag American Physical Society (APS)
Band 13
Heft 1
Seiten Art.-Nr. 014068
Externe Relationen Abstract/Volltext
Nachgewiesen in Web of Science
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