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Compensated Microsphere-Assisted Interference Microscopy

Perrin, Stephane; Donie, Yidenekachew J.; Montgomery, Paul; Gomard, Guillaume; Lecler, Sylvain



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2331-7019
KITopen-ID: 1000118379
Erschienen in Physical review applied
Band 13
Heft 1
Seiten Art.-Nr. 014068
Externe Relationen Abstract/Volltext
Nachgewiesen in Web of Science
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