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Compensated Microsphere-Assisted Interference Microscopy

Perrin, Stephane; Donie, Yidenekachew J. 1,2; Montgomery, Paul; Gomard, Guillaume 1,2; Lecler, Sylvain
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Lichttechnisches Institut (LTI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevApplied.13.014068
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2331-7019
KITopen-ID: 1000118379
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems
Erschienen in Physical review applied
Verlag American Physical Society (APS)
Band 13
Heft 1
Seiten Art.-Nr. 014068
Externe Relationen Abstract/Volltext
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