Microcharacterization of Interface Oxide Layer on Laser-Structured Silicon Surfaces of Plated Ni–Cu Solar Cells

Büchler, Andreas; Grübel, Benjamin; Arya, Varun; Weingärtner, Tobias

¹; Hähnel, Angelika ¹; Naumann, Volker; Bartsch, Jonas; Glatthaar, Markus; Kluska, Sven
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Postprint

DOI: 10.5445/IR/1000118427

Veröffentlicht am 02.01.2023

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/JPHOTOV.2019.2938306

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr	11.2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 2156-3381, 2156-3403 KITopen-ID: 1000118427
HGF-Programm	49.02.02 (POF III, LK 02) AES
Erschienen in	IEEE journal of photovoltaics
Verlag	IEEE Electron Devices Society
Band	9
Heft	6
Seiten	1532–1540
Vorab online veröffentlicht am	18.09.2019
Schlagwörter	2017-017-017509 AES
Nachgewiesen in	Web of Science Dimensions Scopus