Microcharacterization of Interface Oxide Layer on Laser-Structured Silicon Surfaces of Plated Ni–Cu Solar Cells
Büchler, Andreas; Grübel, Benjamin; Arya, Varun; Weingärtner, Tobias
1; Hähnel, Angelika 1; Naumann, Volker; Bartsch, Jonas; Glatthaar, Markus; Kluska, Sven
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Hähnel, Angelika 1; Naumann, Volker; Bartsch, Jonas; Glatthaar, Markus; Kluska, Sven1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 11.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2156-3381, 2156-3403 KITopen-ID: 1000118427 |
| HGF-Programm | 49.02.02 (POF III, LK 02) AES |
| Erschienen in | IEEE journal of photovoltaics |
| Verlag | IEEE Electron Devices Society |
| Band | 9 |
| Heft | 6 |
| Seiten | 1532–1540 |
| Vorab online veröffentlicht am | 18.09.2019 |
| Schlagwörter | 2017-017-017509 AES |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus OpenAlex |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |