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A Spintronics Memory PUF for Resilience Against Cloning Counterfeit

Ben Dodo, Samir; Bishnoi, Rajendra; Mohanachandran Nair, Sarath; Tahoori, Mehdi B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TVLSI.2019.2931481
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Zitationen: 2
Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 11.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1063-8210, 1557-9999
KITopen-ID: 1000118449
Erschienen in IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 27
Heft 11
Seiten 2511–2522
Vorab online veröffentlicht am 12.08.2019
Nachgewiesen in Dimensions
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