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Machine Vision Algorithms and Applications

Steger, Carsten; Ulrich, Markus; Wiedemann, Christian



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Buch
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-527-41365-2
KITopen-ID: 1000118712
Auflage 2nd
Verlag Wiley-VCH, Berlin
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