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Combining Scale-Space and Similarity-Based Aspect Graphs for Fast 3D Object Recognition

Ulrich, Markus; Wiedemann, Christian; Steger, Carsten



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TPAMI.2011.266
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0162-8828, 1939-3539, 2160-9292
KITopen-ID: 1000118718
Erschienen in IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence
Band 34
Heft 10
Seiten 1902–1914
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