Combining Scale-Space and Similarity-Based Aspect Graphs for Fast 3D Object Recognition
Ulrich, Markus
; Wiedemann, Christian; Steger, Carsten
; Wiedemann, Christian; Steger, Carsten| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF) KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0162-8828, 1939-3539, 2160-9292 KITopen-ID: 1000118718 |
| Erschienen in | IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 34 |
| Heft | 10 |
| Seiten | 1902–1914 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |