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Model globally, match locally: Efficient and robust 3D object recognition

Drost, Bertram; Ulrich, Markus ORCID iD icon; Navab, Nassir; Ilic, Slobodan


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/CVPR.2010.5540108
Dimensions
Zitationen: 784
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4244-6984-0
KITopen-ID: 1000118721
Erschienen in 2010 IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR)
Veranstaltung IEEE / CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR 2010), San Francisco, CA, USA, 13.06.2010 – 18.06.2010
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 998–1005
Nachgewiesen in Dimensions
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