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Machine Vision Algorithms and Applications

Steger, Carsten; Ulrich, Markus; Wiedemann, Christian



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Buch
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-527-40734-7
KITopen-ID: 1000118739
Auflage 1
Verlag Wiley-VCH, Weinheim
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