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Methodology for characterization of high-speed multi-conductor metal interconnections and evaluation of measurement errors

Palusinski, O.A.; Znamirowski, L.; Reiss, K.; Grabinski, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Elektrotechnik und Systemoptimierung (ITE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 08.2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1521-3323
KITopen-ID: 1000118772
Erschienen in IEEE transactions on advanced packaging
Band 25
Heft 3
Seiten 347–355
Bemerkung zur Veröffentlichung Instituts-ID: 63
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