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NCFET to Rescue Technology Scaling: Opportunities and Challenges

Amrouch, H.; Van Santen, V. M.; Pahwa, G.; Chauhan, Y.; Henkel, J.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ASP-DAC47756.2020.9045415
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72814-123-7
KITopen-ID: 1000118943
Erschienen in 2020 25th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
Veranstaltung Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC 2020), Peking, China, 13.01.2020 – 16.01.2020
Verlag IEEE
Seiten 637-644
Nachgewiesen in Scopus
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