NCFET to Rescue Technology Scaling: Opportunities and Challenges
Amrouch, H. 1; Van Santen, V. M.
1; Pahwa, G.; Chauhan, Y.; Henkel, J. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Pahwa, G.; Chauhan, Y.; Henkel, J. 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-72814-123-7 KITopen-ID: 1000118943 |
| Erschienen in | 2020 25th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) |
| Veranstaltung | Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC 2020), Peking, China, 13.01.2020 – 16.01.2020 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 637-644 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |