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Beam test performance of prototype silicon detectors for the Outer Tracker for the Phase-2 Upgrade of CMS

Adam, W.; Bergauer, T.; Blöch, D.; Brondolin, E.; Dragicevic, M.; Frühwirth, R.; Hinger, V.; Steininger, H.; Beaumont, W.; Croce, D. Di; Janssen, X.; Lauwers, J.; Mechelen, P. Van; Remortel, N. Van; Blekman, F.; Chhibra, S. S.; Clercq, J. De; D'Hondt, J.; Lowette, S.; ... mehr


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000119153
Veröffentlicht am 11.05.2020
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/15/03/P03014
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Zitationen: 5
Dimensions
Zitationen: 7
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000119153
HGF-Programm 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 15
Heft 03
Seiten Articel no: P03014
Vorab online veröffentlicht am 17.03.2020
Nachgewiesen in Dimensions
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