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Ermittlung und Analyse neuer bildbasierter Prozesskenngrößen aus Infrarot-Aufnahmen für industrielle Anwendungen des Wälzrohrverfahrens

Waibel, Patrick



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Elektrotechnik und Systemoptimierung (ITE)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 02.05.2007
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000119164
Art der Arbeit Abschlussarbeit - Diplom
Prüfungsdaten 2.Mai 2007 Betreuer: Gert F. Trommer
Bemerkung zur Veröffentlichung Instituts-ID: 129
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