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Influence of the beam profile on laser-induced thresholds using explants

Ramos, Scarlett; Elmlinger, Philipp; Stork, Wilhelm; Heussner, Nico; Zalevsky, Zeev [Hrsg.]; Tuchin, Valery V. [Hrsg.]; Blondel, Walter C. [Hrsg.]



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2557057
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 04.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-3499-2
KITopen-ID: 1000119264
Erschienen in Tissue Optics and Photonics. SPIE Photonics Europe, Online France, April 6-10, 2020. Ed.: V.V. Tuchin
Verlag SPIE, Bellingham, WA
Seiten 51
Serie Proceedings of SPIE ; 11363
Vorab online veröffentlicht am 06.04.2020
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