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Sensor-Realistic Simulations for Evaluation and Planning of Optical Measurement Systems with an Application to Laser Triangulation

Mohammadikaji, M.; Bergmann, S.; Beyerer, J.; Burke, J.; Dachsbacher, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1530-437X, 1558-1748
KITopen-ID: 1000119580
Erschienen in IEEE sensors journal
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 20
Heft 10
Seiten 5336-5349
Nachgewiesen in Web of Science
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