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Structural elucidation of the degradation mechanism of nickel-rich layered cathodes during high-voltage cycling

Lai, J.; Zhang, J.; Li, Z.; Xiao, Y.; Hua, W.; Wu, Z.; Chen, Y.; Zhong, Y.; Xiang, W.; Guo, X.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1039/d0cc00327a
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0009-241X, 0022-4936, 1359-7345, 1364-548X, 2050-5620, 2050-5639
KITopen-ID: 1000119618
Erschienen in Chemical communications
Band 56
Heft 36
Seiten 4886-4889
Vorab online veröffentlicht am 23.03.2020
Nachgewiesen in Scopus
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