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Development of CMOS sensors for electron microscopy

Mateos, H.; Ferretti, A.; Mele, L.; Perić, I.

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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000119703
HGF-Programm 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag IOP Publishing
Band 14
Heft 12
Seiten Art.-Nr. C12002
Vorab online veröffentlicht am 03.12.2019
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