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SDR-Based Readout Electronics for the ECHo Experiment

Karcher, N.; Richter, D.; Ahrens, F.; Gartmann, R.; Wegner, M.; Krömer, O.; Kempf, S.; Enss, C.; Weber, M.; Sander, O.

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Postprint §
DOI: 10.5445/IR/1000119765
Veröffentlicht am 01.05.2021
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s10909-020-02463-w
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Zitationen: 2
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 01.09.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2291, 1573-7357
KITopen-ID: 1000119765
HGF-Programm 54.02.02 (POF III, LK 01) Ultraschnelle Datenauswertung
Erschienen in Journal of low temperature physics
Verlag Springer
Band 200
Heft 5-6
Seiten 261-268
Vorab online veröffentlicht am 30.04.2020
Nachgewiesen in Scopus
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