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SDR-Based Readout Electronics for the ECHo Experiment

Karcher, N.; Richter, D.; Ahrens, F.; Gartmann, R.; Wegner, M.; Krömer, O.; Kempf, S.; Enss, C.; Weber, M.; Sander, O.

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DOI: 10.5445/IR/1000119765
Frei zugänglich ab 01.05.2021
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2291, 1573-7357
KITopen-ID: 1000119765
Erschienen in Journal of low temperature physics
Vorab online veröffentlicht am 30.04.2020
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