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Artificial intelligence with neural networks in optical measurement and inspection systems

Heizmann, Michael 1; Braun, Alexander; Hüttel, Markus; Klüver, Christina; Marquardt, Erik; Overdick, Michael; Ulrich, Markus ORCID iD icon 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/auto-2020-0006
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Zitationen: 5
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Zitationen: 3
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Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2196-677X, 0178-2312
KITopen-ID: 1000119929
Erschienen in Automatisierungstechnik
Verlag De Gruyter
Band 68
Heft 6
Seiten 477–487
Vorab online veröffentlicht am 02.06.2020
Nachgewiesen in Scopus
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