Artificial intelligence with neural networks in optical measurement and inspection systems
Heizmann, Michael 1; Braun, Alexander; Hüttel, Markus; Klüver, Christina; Marquardt, Erik; Overdick, Michael; Ulrich, Markus
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1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF) KIT-Zentrum Klima und Umwelt (ZKU) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 06.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2196-677X, 0178-2312 KITopen-ID: 1000119929 |
| Erschienen in | Automatisierungstechnik |
| Verlag | De Gruyter |
| Band | 68 |
| Heft | 6 |
| Seiten | 477–487 |
| Vorab online veröffentlicht am | 02.06.2020 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |