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Local transport measurements in graphene on SiO2 using Kelvin probe force microscopy

Willke, Philip ORCID iD icon; Möhle, Christian; Sinterhauf, Anna; Kotzott, Thomas; Yu, Hak Ki; Wodtke, Alec; Wenderoth, Martin


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.carbon.2016.02.067
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Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0008-6223
KITopen-ID: 1000119969
Erschienen in Carbon
Verlag Elsevier
Band 102
Seiten 470–476
Nachgewiesen in Dimensions
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