Local transport measurements in graphene on SiO2 using Kelvin probe force microscopy
Willke, Philip
; Möhle, Christian; Sinterhauf, Anna; Kotzott, Thomas; Yu, Hak Ki; Wodtke, Alec; Wenderoth, Martin
; Möhle, Christian; Sinterhauf, Anna; Kotzott, Thomas; Yu, Hak Ki; Wodtke, Alec; Wenderoth, Martin
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Physikalisches Institut (PHI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 06.2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0008-6223 KITopen-ID: 1000119969 |
| Erschienen in | Carbon |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 102 |
| Seiten | 470–476 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |