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A systematic evaluation of recent deep learning architectures for fine-grained vehicle classification

Valev, Krassimir 1; Schumann, Arne; Sommer, Lars 1; Beyerer, Jürgen 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2305062
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Zitationen: 18
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Zitationen: 19
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-151061809-1
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000120155
Erschienen in Pattern Recognition and Tracking XXIX : 18-19 April 2018, Orlando, Florida, United States. Ed.: Mohammad S. Alam
Veranstaltung 29th Pattern Recognition and Tracking (2018), Orlando, FL, USA, 18.04.2018 – 19.04.2018
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Seiten Art.Nr.: 1064902
Serie Proceedings of SPIE ; 10649
Nachgewiesen in Dimensions
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