Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsdatum | 13.06.2020 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISSN: 2331-7418 KITopen-ID: 1000120188 |
Erschienen in | Journal of Computer Graphics Techniques (JCGT) |
Band | 9 |
Heft | 2 |
Seiten | 1–25 |
Schlagwörter | Rendering, Bias, Welch, t-test |