| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Visualisierung und Datenanalyse (IVD) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 13.06.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2331-7418 KITopen-ID: 1000120188 |
| Erschienen in | Journal of Computer Graphics Techniques (JCGT) |
| Band | 9 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 1–25 |
| Schlagwörter | Rendering, Bias, Welch, t-test |