Automated Visual Inspection and Machine Vision III : 27 June 2019, Munich, Germany / Jürgen Beyerer, Fernando Puente León (editors) - Teilkonferenz von SPIE Optical Metrology 2019 im Rahmen des World of Photonics Congress 2019
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsband |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-2801-4 KITopen-ID: 1000120461 |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Serie | Proceedings of SPIE ; 11061 |