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Automated Visual Inspection and Machine Vision III : 27 June 2019, Munich, Germany / Jürgen Beyerer, Fernando Puente León (editors) - Teilkonferenz von SPIE Optical Metrology 2019 im Rahmen des World of Photonics Congress 2019

Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Puente León, Fernando [Hrsg.]



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsband
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-2801-4
KITopen-ID: 1000120461
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Serie Proceedings of SPIE ; 11061
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