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Non-destructive characterization of additively manufactured components using X-ray micro-computed tomography

Dietrich, S.; Englert, L.; Pinter, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000120474
Erschienen in 29th Annual International Solid Freeform Fabrication Symposium - An Additive Manufacturing Conference, SFF 2018; The University of Texas in Austin; United States; 13 August 2018 through 15 August 2018
Verlag Univ. of Texas
Seiten 241-250
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