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Reliable Fail-Operational Automotive E/E-Architectures by Dynamic Redundancy and Reconfiguration

Oszwald, F.; Obergfell, P.; Traub, M.; Becker, Jürgen



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/SOCC46988.2019.1570547977
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72813-482-6
ISSN: 2164-1676
KITopen-ID: 1000120496
Erschienen in 32nd IEEE International System on Chip Conference, SOCC 2019; Singapore; Singapore; 3 September 2019 through 6 September 2019. Ed.: D. Zhao
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 203-208
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