Reliable Fail-Operational Automotive E/E-Architectures by Dynamic Redundancy and Reconfiguration
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-72813-482-6 ISSN: 2164-1676 KITopen-ID: 1000120496 |
| Erschienen in | 32nd IEEE International System on Chip Conference, SOCC 2019; Singapore; Singapore; 3 September 2019 through 6 September 2019. Ed.: D. Zhao |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 203-208 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |