| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 21.06.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-151062801-4 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000121021 |
| Erschienen in | Automated Visual Inspection and Machine Vision III. Ed.: J. Beyerer |
| Veranstaltung | SPIE Optical Metrology (2019), München, Deutschland, 24.06.2019 – 27.06.2019 |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | Article no: 1106102 |
| Serie | Proceedings of SPIE ; 11061 |
| Externe Relationen | Forschungsdaten/Software |
| Schlagwörter | Computational cameras, raytracing, simulation, evaluation |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |