Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsdatum | 21.06.2019 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-151062801-4 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000121021 |
Erschienen in | Automated Visual Inspection and Machine Vision III. Ed.: J. Beyerer |
Veranstaltung | SPIE Optical Metrology (2019), München, Deutschland, 24.06.2019 – 27.06.2019 |
Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
Seiten | Article no: 1106102 |
Serie | Proceedings of SPIE ; 11061 |
Externe Relationen | Forschungsdaten/Software |
Schlagwörter | Computational cameras, raytracing, simulation, evaluation |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |