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Schnelle MRI zur Charakterisierung von Filtrationsprozessen

Schuhmann, Sebastian

Abstract:

Die Anwendbarkeit von schnellen Magnetic Resonance Imaging (MRI) Methoden zur Untersuchung von Separationsprozessen in Form von Ultrafiltrationen steht im Fokus dieser Dissertation. Hohlfasermembranen werden häufig für Ultrafiltrationen verwendet, wobei Ablagerungen mit zunehmender Filtrationszeit zu einer Effizienzminderung führen. Da Hohlfasermembranen in der Regel von innen nach außen filtriert werden, ist eine Beobachtung der Foulingvorgänge mittels gängiger, meist optischer Methoden nur schwer realisierbar. Durch MRI können die mikroskopischen zu Ablagerungen führenden Mechanismen im Detail charakterisiert werden, was zu einem besseren Verständnis des Filtrationsprozesses beiträgt. ... mehr

Abstract (englisch):

The applicability of fast Magnetic Resonance Imaging (MRI) to study separation processes in form of ultrafiltration is the focus of this dissertation. Hollow fiber membranes are often used for ultrafiltration, whereby deposits lead to a reduction in efficiency with increasing filtration time. Since hollow fiber membranes are usually filtrated from the inside to the outside, it is difficult to observe fouling processes by common, mostly optical methods. MRI allows the microscopic mechanisms leading to fouling to be characterized in detail, which contributes to a better understanding of the filtration processes. ... mehr


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000121184
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 16.07.2020
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000121184
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang 149 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Chemieingenieurwesen und Verfahrenstechnik (CIW)
Institut Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Prüfungsdatum 06.07.2020
Schlagwörter NMR, MRI, Compressed Sensing, Filtration, Ultrafiltration
Referent/Betreuer Guthausen, G.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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