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Nanowire Facilitated Transfer of Sensitive TEM Samples in a FIB

Gorji, Saleh; Kashiwar, Ankush; Mantha, Lakshmi S.; Kruk, Robert; Witte, Ralf; Marek, Peter; Hahn, Horst; Kübel, Christian; Scherer, Torsten



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113075
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen-ID: 1000121424
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design
Weitere HGF-Programme 43.22.02 (POF III, LK 01) Nanocatalysis
Erschienen in Ultramicroscopy
Verlag Elsevier
Band 219
Seiten Art.Nr. 113075
Vorab online veröffentlicht am 15.07.2020
Schlagwörter 2018-020-022249, TEM, FIB
Nachgewiesen in Dimensions
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