Fast and Accurate High-Sigma Failure Rate Estimation through Extended Bayesian Optimized Importance Sampling
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Institut für Telematik (TM) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 03.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-9819263-4-7 KITopen-ID: 1000122033 |
| HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
| Erschienen in | 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE). Ed.: G. Di Natale |
| Veranstaltung | Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2020), Grenoble, Frankreich, 09.03.2020 – 13.03.2020 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 103–108 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |