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Fast and Accurate High-Sigma Failure Rate Estimation through Extended Bayesian Optimized Importance Sampling

Hefenbrock, Michael; Weller, Dennis D.; Beigl, Michael; Tahoori, Mehdi B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/DATE48585.2020.9116242
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 03.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9819263-4-7
KITopen-ID: 1000122033
HGF-Programm 43.22.03 (POF III, LK 01)
Printed Materials and Systems
Erschienen in 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE). Ed.: G. Di Natale
Veranstaltung Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2020), Grenoble, Frankreich, 09.03.2020 – 13.03.2020
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
Seiten 103–108
Nachgewiesen in Scopus
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